http://www.nanotech.ru/cn/r/tech8.php
Главная страница КОНЦЕРН "НАНОИНДУСТРИЯ"
О концерне Предлагаем Услуги Сотрудничество Контакт Карта сайта
ЛАБОРАТОРНЫЙ НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС
НА БАЗЕ СКАНИРУЮЩЕГО ТУННЕЛЬНОГО МИКРОСКОПА "УМКА"
Содержание страницы:
Описание Отзывы пользователей НТК «Умка»
Функциональные возможности Статьи
Технические характеристики Комплектация
Сканы, полученные на НТК «Умка» Сопутствующие товары
Области применения Тестовые ячейки для калибровки СТМ
Основные достоинства Обучение
Награды Контакты
ОПИСАНИЕ
НТК «УМКА» с ноутбуком (входит в комплект по заказу )
Лабораторный нанотехнологический комплекс на базе сканирующего туннельного микроскопа «УМКА» (НТК «УМКА») является прекрасным инструментом для обучения современным практическим методам работы с наноразмерными структурами. Комплекс с успехом используется в университетских и научных лабораториях для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук, а также может применяться в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий.
Входящий в состав комплекса сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) «Умка» обеспечивает в атмосферных условиях изучение объектов и получение с атомарнымым разрешением чётких 2D- и 3D - изображений поверхностей проводящих и слабопроводящих (в т.ч. биологических) образцов методами сканирующей туннельной микроскопии.
НТК позволяет измерять все типы дифференциальных спектров: dI/dU, dI/dH, dH/dU, а реализованные алгоритмы обработки данных - определять амплитуду и сдвиг фаз между измеряемыми каналами. Все это дает возможность использовать комплекс при изучении коррозии в том числе и гетерогенных материалов, позволяя четко определять структуру «зерен» разного состава, исследовать композитные материалы, различать зоны с разным типом проводимости и уровнем легирования в полупроводниках.
ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ НТК «УМКА»
определение топологии поверхности образцов с атомарным разрешением;
определение работы выхода и импеданса;
определение примесей в исследуемом материале;
определение вольт-амперных, вольт-высотных и дифференциальных характеристик материала;
определение типа проводимости материала, анализ структур проводящих и магнитных образцов на атомно-молекулярном уровне;
измерение параметров профиля (шероховатость, размер включений и наночастиц);
фильтрация отсканированных изображений, получение топологии поверхности образцов в виде чётких изображений;
оценка длительного внешнего воздействия на образцы в режиме реального времени (in siti) ( определение коррозионной устойчивости, радиационного воздействия и т.д.).
Кроме того, «УМКА» позволяет выполнять работы, требующие определение характеристик материалов и сред на атомно-молекулярном уровне и их анализ (в частности, анализ состояния покрытий и поверхностей обработанных деталей; для исследования электропроводящих поверхностей и т.п.)
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Разрешение атомарное, молекулярное
Размер образца (мм) 8 х 8 х (0,5…4,0)*
Поле сканирования (мкм) 5 х 5 ± 3
Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/ в режиме 1:10, (нм) 0,08/0,008
Диапазон высот (мкм) 1± 0,2
Шаг измерения по вертикали (нм), не хуже <0,02
Ш у м ы :
по X и Y : - в полном поле
- в режиме 1:10 0,15 нм
0,02 нм
по Z 0,04 нм
У с т а н а в л и в а е м ы е п а р а м е т р ы :
- напряжение на туннельном зазоре (В) 0 ± 2,3
- туннельный ток (пА) 1...1500; 60 … 5000*
Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ) 0,04
П а р а м е т р ы с и г н а л а д л я м о д у л я ц и и т у н н е л ь н о г о п р о м е ж у т к а :
- форма сигнала Произвольная программно задаваемая
- частота (кГц) 10 … 100
- глубина модуляции (пм) ± (1...100)
Время сканирования кадра 3*3 нм с атомарным разрешением, не более < 7 сек
Время сканирования кадра 5*5 мкм, не более < 4 мин
Время выхода системы на рабочий режим, не более <2 мин
Р е ж и м ы р а б о т ы :
- режим сканирования по постоянному току;
- режим сканирования с постоянной высотой;
- режим измерения вольт-амперной характеристики поверхности.
*) Параметры могут изменяться по согласованию с заказчиком для слабопроводящих и проводящих объектов
СКАНЫ, ПОЛУЧЕННЫЕ С ПОМОЩЬЮ НТК «Умка»
Островковая пленка графита
на поверхности золота,
5.12 х 5.12 мкм Пленка со стенок ТОКОМАКа,
0.39х0.39 мкм Углеродная нанотрубка
на поверхности графитовой бумаги,
0.31х0.31 мкм
Галерея других изображений,полученных с помощью комплекса «Умка» (файл объемом 3,5 Мб.)
ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ
Обучение современным практическим методам работы с наноразмерными структурами.
Осуществление научно-исследовательских и прикладных работ в научных и университетских лабораториях.
Неразрушающее исследование поверхностей методами туннельной микроскопии и спектроскопии.
Выполнение работ, требующих в частности, определения характеристик материалов и сред на атомно-молекулярном уровне.
Исследования биологических объектов на атомно-молекулярном уровне.
Разработка нанотехнологических процессов в газовых средах.
Создание нанообъектов для наноэлектроники, нанооптики точной механики микро- и наноробототехники, генной инженерии.
ОСНОВНЫЕ ДОСТОИНСТВА
высокая надежность и достоверность получаемых результатов;
высокая скорость сканирования;
«интелектуальные» алгоритмы сканирования и подвода;
отсутствие механических элементов, требующих точной юстировки, настройки, смазки или профилактического обслуживания;
реализованный механизм «мягкого» подвода иглы к поверхности сохраняет острия зонда, в результате чего вероятность подвода без «втыкания» более 90%;
высокая температурная стабильность, позволяющая проводить длительные манипуляции с отдельными группами атомов;
повышенная виброустойчивость, акустическая и электропомехозащищенность;
низкий уровень собственных шумов;
простота в обучении, использовании и обслуживании;
не требует специального обучения (закрепление образца и смена иглы - на уровне простейших лаборантских навыков);
малые габариты.
По своим техническим характеристикам комплекс «УМКА» соответствует лучшим СТМ, представленным на международном рынке, однако значительно проще в работе и дешевле. Это создает реальные предпосылки для массового использования комплекса, как в сфере подготовки профессиональных кадров, так и во многих отраслях российской промышленности с целью их технологического перевооружения, отвечающего современным требованиям научно-технического прогресса.
НТК «Умка» НАГРАЖДЕН:
Почетным дипломом III-й Специализированной выставки «НАНОТЕХНОЛОГИЙ И МАТЕРИАЛОВ –NTMEX-2006».
Москва, здание Правительства Москвы 5 - 7 декабря 2006 года.
Дипломом и медалью 8-й Специализированной выставки «Изделия и технологии двойного назначения. Диверсификация ОПК».
Москва, ВВЦ 2 - 5 октября 2007.
Дипломом и медалью 9-й специализированной выставки «Изделия и технологии двойного назначения. Диверсификация ОПК».
Москва, ВВЦ 24-28 октября 2008 года.
ПОЛЬЗОВАТЕЛИ
Обладая выигрышным для пользователей соотношением ЦЕНА-КАЧЕСТВО-УДОБСТВО И ПРОСТОТА ИСПОЛЬЗОВАНИЯ, НТК «УМКА» конкурентоспособен как на отечественном, так и международном рынках.
К настоящему времени по результатам конкурсов котировки цены и открытых аукционов НТК «Умка-02Е» и комплекс «NANOskill» приобрели около 100 научных организаций, университетов и научно- производственных предприятий, в том числе РНЦ «Курчатовский институт», Центр имени М.В. Келдыша, ЦНИИТМАШ, Институт биологического приборостроения РАН, МГУ им. М.В. Ломоносова, СТАНКИН, Астраханский, Саратовский и другие государственные университеты во многих регионах России.
Кубанский государственный университет приобрёл 10 комплексов «Умка-02-Е» для обучения студентов, по специальности «Нанотехнология» и проведения научно-исследовательских работ в области анализа структур проводящих и магнитных образцов на атомно-молекулярном уровне. 5 комплексов «Рабочее место «NANOskill» приобретены МГТУ им. Н.Э.Баумана. Два НТК «Умка-02-Е» входят в состав оборудования «Нанотрака» - первого в России передвижного учебного класса «Нанотехнологии и наноматериалы», созданного по заказу Московского комитета по науке и технологиям для системы школьного образования.
КОМПЛЕКТАЦИЯ
Минимальный комплект поставки НТК «УМКА» включает:
блок пьезоманипуляторов, с системой виброизоляции;
блок управления;
программное обеспечение с системой плагинов;
наборы тестовых образцов, материалов, инструментов;
лабораторный практикум;
инструкцию по изготовлению зондов для СТМ;
паспорт;
руководство пользователя;
галерею сканов, полученных на НТК «Умка»;
учебный фильм.
Комплекс Рабочее место «NANOskill» в составе:
НТК «УМКА»;
Установку для заточки зондов;
персональный компьютер (включая ЖК монитор, клавиатуру, мышь и провода) с характеристиками, обеспечивающими работу НТК «Умка»;
методические материалы для подготовки лабораторных работ по специализации «Нанотехнологии» (5 шт.).
СОПУТСТВУЮЩИЕ ТОВАРЫ:
вольфрамовые иглы для СТМ с электрохимической и ионной заточкой;
методические материалы для подготовки лабораторных работ по специализации "Нанотехнологии";
наборы тестовых образцов для СТМ и для проведения лабораторных работ по нанотехнологиям;
тестовые ячейки для калибровки СТМ.
ОБУЧЕНИЕ
При концерне "Наноиндустрия" действует Инженерно-образовательный центр, где Ваш персонал может овладеть основными приемами и необходимыми навыками работы с НТК "УМКА".
В случае необходимости, представителям заинтересованных организаций может быть предоставлена возможность предварительно посетить Инженерно-образовательный центр и ознакомиться с оборудованием, а также предварительно оценить возможности комплекса "Умка" для решения конкретных задач.
ТЕХНИЧЕСКАЯ ПОДДЕРЖКА. Вопросы и замечания, связанные с эксплуатацией НТК "Умка", предлагаем присылать по электронной почте.
ЗАПРОСЫ НА ПОСТАВКУ комплекса "Умка" и сопутствующих товаров направляйте, пожалуйста, по адресу:
117246, Москва, Научный пр-д, дом 20, стр 4.
E-mail:
info2@nanotech.ru,
nanotech@mail.magelan.ru
Copyright © 2003-2008 Концерн "Наноиндустрия"
info2@nanotech.ru
Вход
FAQ
Поиск
